XTU-4C高性能膜厚儀

XTU-4C是一款設計結構緊湊，模塊精密化程度極高的鍍層測厚儀，采用了下照式C型腔體設計，不但可以測量各種微小樣品，即使大型超出樣品腔尺寸的工件也可測量，是一款測量涂鍍層成分及厚度性價比高、適用性強的機型。

該系列儀器使用于平面、微小樣品或者微凹槽曲面深度30mm以內的樣品涂鍍層檢測。

被廣泛用于各類產品的質量管控、來料檢驗和對生產工藝控制的測量使用。

• 快速精準移動定位：高精密微型移動滑軌，10-30mm（X-Y）/圈，精度0.005mm

• 微焦X射線裝置：檢測面積可小于0.002mm2的樣品，可測試各微小的部件

• 高效率正比接收器：即使測試0.01mm2以下的樣品，幾秒鐘也能達到穩定性

• 變焦裝置及算法：可對各種異形凹槽進行檢測，凹槽深度測量范圍可達0-30mm

• 對焦方便：下照式設計可以快速定位對焦樣品

1. 元素分析范圍：氯（Cl）- 鈾（U）

2. 涂鍍層分析范圍：氯（Cl）/鋰（Li）- 鈾（U）

3. 厚度最低檢出限：0.005μm

4. 成分最低檢出限：1ppm

5. 最小測量直徑0.2mm（最小測量面積0.03mm2）

6. 對焦距離：0-30mm

7. 樣品腔尺寸：500mm*360mm*215mm

8. 儀器尺寸：550mm*480mm*470mm

9. 儀器重量：45KG

10. XY軸工作臺移動范圍：50mm*50mm

11. XY軸工作臺最大承重：5KG

廣泛應用于電鍍行業、通訊行業、汽車行業、五金建材、航空航天、水暖衛浴、精密電子、珠寶首飾和古董等多種領域。

選擇一六儀器的四大理由：

1.一機多用，無損檢測

2.最小測量面積0.002mm2

3.可檢測凹槽0-30mm的異形件

4.輕元素，重復鍍層，同種元素不同層亦可檢測