XAVU是一款一機多用型光譜儀，應用了先進的EFP算法和微光聚集技術，既保留了專用測厚儀檢測微小樣品和凹槽的膜厚性能，又可滿足成分分析。被廣泛用于各類產品的質量管控、來料檢驗和對生產工藝控制的測量使用。
1）搭載微聚焦加強型X射線發生器和先進的光路轉換聚焦系統，最小測量面積達0.03mm2
2）擁有無損變焦檢測技術，手動變焦功能，可對各種異形凹槽件進行無損檢測，凹槽深度范圍0-30mm
3）核心EFP算法，可對多層多元素，包括同種元素在不同層都可快、準、穩的做出數據分析（釹鐵硼磁鐵上Ni/Cu/Ni/FeNdB，精準檢測第一層Ni和第三層Ni的厚度）
4）配置智能抽真空系統，屏蔽大氣對低能元素的影響，對Al,Si,P等輕元素涂鍍層厚度以及成分測試精度更高，數據更加準確穩定
5）裝配SDD硅漂移探測器，分辨率更高，能量線性好，較高的峰背比
6）配置更高效數字多道技術，測試速度更快，計數率達到100000CPS，精度更高
7）涂鍍層分析范圍：鋰Li（3）- 鈾U（92）
8）成分分析范圍：鈉Na（11）- 鈾U（92）
9）RoHS、鹵素有害元素檢測
10）人性化封閉軟件，自動判斷故障提示校正及操作步驟，避免誤操作
11）標配4準直器自動切換，最小測量面積可達0.03mm2
12）配有微光聚集技術，最近測距光斑擴散度小于10%
標簽: 輕元素檢測 成分分析 鍍層測厚
行業應用：化學鎳
化學鍍就是在不通電的情況下，利用氧化還原反應在具有催化表面的鍍件上，獲得金屬合金的方法，是新近發展起來的一門新技術。
化學鍍鎳層具有很好的均勻性、硬度、耐磨和耐蝕性等綜合物理化學性能，該項技術已經得到廣泛應用在航空航天，汽車工業，化學工業，軍事工業，石油天然氣，食品加工，采礦，電子計算機等各行各業中。
由于化學鎳鍍層成分中含有磷（P）等X射線在大氣狀態無法檢出的輕金屬元素，加上在不同應用領域中，P的含量高低不一等因素，以往采用的庫倫法，X射線法等測量方法都存在準確度，可重現性等方面的不足。
傳統的X射線檢測時，由于鍍層成分中的P比例是在不停變化的，通過固定鎳與磷
的比例的檢測方法已不能完全反映樣品的真實情況，造成測量的誤差。
XAVU儀器配備智能真空測試系統屏蔽大氣對低能元素的影響，對Al,Si,P等輕元素鍍層厚度以及成分測試精度更高，數據更加準確穩定
標簽: 輕元素檢測 成分分析 鍍層測厚
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