XU-100高性價比膜厚儀

全面升級

XU-100 X熒光光譜測厚儀

高精尖檢測技術，搞定企業品質管控！

XU-100光譜測厚儀采用下照式C型腔體設計，搭配微聚焦X射線發生器和高集成垂直光路系統，以及高敏變焦測距裝置，對各種大小異形件都可快速、精準、無損測量。?檢測各種金屬鍍層，檢出限可達0.005μm，最小測量面積0.2mm2，凹槽深度測量范圍可達0-30mm，是一款測量鍍層厚度性價比高、適用性強的機型。

應用行業：

電鍍層分析

緊固件行業

五金行業

汽車零部件

配飾厚度分析

電子元器件

……

常見樣品：

緊固件?ZnAl/Fe、Zn/Fe、ZnNi/Fe

五金制品?Sn/Cu/Fe、Ni/Cu、Ni/Cu/Fe

電子元器件?Sn/Ni/Fe、Au/Ni/Cu、Ag/Cu?

汽車零部件Zn/Fe、ZnNi/Fe、ZnAl/Fe、Cr/Ni/Cu/ABS?

配飾首飾?Au/Pd/925Ag、Rh/Pd/Cu、18KAu/Pd/Cu

散熱片NiP/Al

……

為什么選擇XU-100？

1.下照式設計?

可以快速方便地定位對焦樣品。?

2.高精密微型移動滑軌

快速精準定位樣品。

3.?微焦X射線裝置

?最小檢測面積可達0.2mm2的樣品，可進行各類電鍍層膜厚檢測。?

高效率正比接收器即使測試0.2mm2的樣品，幾秒鐘也能達到穩定性。

4.?變焦裝置算法

?可對各種異形凹槽進行檢測，凹槽深度測量范圍可達0-30mm。?

5.先進的EFP算法

?多層多元素，包括有同種元素在不同涂鍍層的檢測，都可以快、準、穩的做出數據分析。?

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